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一款先进的非破坏性电性故障定位设备

它可以直接快速地透过IC正面或背面来找出缺陷所在位置。它利用高灵敏度的中红外探测器在IC通电情况下探测缺陷位置热辐射的分布,以此定位失效点。

除了IC与Package以外,还可应用于大面积的产品,如PCB、面板等。




LUXET Thermo 50非制冷型中红外显微系统特点:

? 非制冷高性价比
? 自主研发
? 锁相功能,大幅提高信噪比
? 热灵敏度1mK
? 轻便易携带
? 可配探针台,高压输出方案
? 快速交付


LUXET Thermo 50非制冷型中红外显微系统规格:


镜头组合
1x,2x可选
红外机芯非制冷 
NETD=60mK
锁相帧频
1Hz-25Hz
视野范围
可对焦至无穷远处


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失效器件一


IC影像+Thermal Emission

振幅图

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