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先进的非破坏性电性故障定位设备


以直接快速地透过IC正面或背面来找出缺陷所在位置。它利用高灵敏度的中红外探测器在IC通电情况下探测缺陷位置热辐射的分布,以此定位失效点。


除了IC与Package以外,锁相红外显微镜还可应用于大面积的产品,如PCB、面板等。




LUXET Thermo 100制冷型中红外显微系统特色:


? 具有市场上*高灵敏度的热源侦测系统
? 锁相功能,大幅提高信噪比
? 热灵敏度0.1mK
? 快速交付


LUXET Thermo 100制冷型中红外显微系统规格:

高电压范围
3000V
高电流范围
3A
锁相帧频 1Hz-25Hz
镜头组合 1x,2x,8x,广角,可定制
广角范围
33mm * 26mm


相关案例:
失效器件一





IC影像+Thermal Emission
(高阈值热点显示)
IC影像+Thermal Emission
(低阈值)
振幅图
失效器件二


IC影像+Thermal Emission

振幅图


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